Estereomicroscópio Digital 3D de Campo Profundo Icoe MEADOF-T20 160x

Código MEADOF-T20(*)
CB0917 CBO917 Dispositivo de Diagnóstico EDF tempo real Ensayos Celulares Equipo de Laboratorio Clínico Estereomicroscópio Icoe MEADOF-T20 Icoe Lente líquida autofoco Luz Paralela Corregida Mapeamento metrológico 3D Microscópio 3D profundidade campo Modo WDR Sensor CMOS Sony Sistema de Lentes IOS
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ESPECIFICAÇÕES TÉCNICAS E DETALHES

O Estereomicroscópio Digital 3D de Campo Profundo Icoe MEADOF-T20 160x resolve a dor da limitação de foco e imprecisão metrológica em superfícies tridimensionais complexas, como placas de circuito impresso (PCB/SMT), componentes usinados e vestígios periciais. Ao integrar lentes líquidas de foco automático ultrarrápido com algoritmos integrados em um design All-in-one completo, este sistema elimina a necessidade de um host de computador externo na bancada industrial ou laboratorial. A tecnologia integrada permite realizar medições analíticas completas em lote e reconstruções topográficas diretamente através de comandos de mouse na tela de 21,5 polegadas inclusa.

Além da venda nacional, este Estereomicroscópio Digital 3D de Campo Profundo Icoe MEADOF-T20 160x pode ser adquirido via faturamento direto internacional (Tax Free) para sua instituição ou centro de pesquisa.

Tecnologia de Foco Avançado com Lente Líquida e Análise EDF / WDR em Tempo Real

O grande diferencial tecnológico do Icoe MEADOF-T20 baseia-se na sua capacidade de profundidade de campo estendida (EDF) em tempo real, gerando imagens focadas em quadro inteiro e eliminando distorções de planos focal irregular. Equipado com um sensor CMOS Sony de 1/2 polegada e o modo Ampla Dinâmica (WDR), o equipamento remove estauros e reflexos cegos comuns de superfícies metálicas brilhantes, revelando texturas sutis e microfissuras estruturais. A extração automática de bordas com resolução de 3 mícrons permite modelagens e medições em lote altamente repetíveis no eixo Z, otimizando o fluxo de controle de qualidade e laudos periciais.

  • Sistema All-In-One Independente: Consolida microscópio estereoscópico, câmera digital de alta resolução, software metrológico avançado, plataforma eletrônica de eixo Z e host de processamento em uma única estrutura estável.
  • Mapeamento Metrológico 3D: Ferramentas analíticas prontas para calcular diferença de altura, volume, curvatura, perfil e rugosidade de superfície submilimétrica com precisão extrema.
  • Lente Líquida de Foco Dinâmico: Proporciona autofoco instantâneo com um clique e zoom óptico e digital contínuo de 16x a 160x sem a necessidade de calibrações repetitivas.
  • Iluminação LED Multiponto: Anel luminoso de LED dividido em quatro zonas com vida útil superior a 4000 horas e temperatura estável de 6500K para fidelidade cromática.

Especificações Técnicas

Parâmetro Técnico Configuração de Fábrica
Faixa de Ampliação Total 16x a 160x (Ampliação óptica do sistema de 0,25x a 2,5x)
Sensor de Imagem e Resolução CMOS colorido 1/2" Sony; Resolução Full HD 1080p (1920x1080 pixels)
Taxa de Quadros (Frame Rate) Normal: 60 fps; Modo Ampla Dinâmica (WDR) ativado: 30 fps
Resolução e Precisão Óptica Resolução de 3 µm; Exatidão de medição automática 2D/3D de até ± 5 µm
Repetibilidade em Altura (Eixo Z) ± 5 µm (Exatidão máxima total estimada no eixo vertical de ± 50 µm)
Monitor de Exibição Incluso Display profissional de 21,5 polegadas Full HD com interface digital HDMI
Conectividade e Interfaces HDMI 2.0, Ethernet rápida RJ-45, 2 portas USB 2.0 e 2 portas de alta velocidade USB 3.0
Armazenamento e Dimensões 32 GB eMMC integrado; Dimensões estruturais de 276 x 402 x 363 mm; Peso: 6,5 kg

Dossiê Científico e Autoridade Técnica

A metrologia de superfícies e a microinspeção avançada exigem a reconstrução precisa do relevo topográfico sem as limitações físicas da profundidade de campo convencional. A combinação de lentes líquidas de foco automático ultrarrápido com algoritmos de Profundidade de Campo Estendida (EDF) em tempo real permite gerar imagens totalmente focadas de ponta a ponta em geometrias complexas. Além disso, a capacidade de mapeamento tridimensional possibilita a medição submilimétrica de altura de passo, volume, rugosidade de superfície e desvios de perfil com alto índice de repetibilidade (eixo Z ≤ 5 µm), operando em modo WDR para eliminar completamente estauros e reflexos de superfícies metálicas. Explore os princípios de amostragem tridimensional, lentes telecêntricas e aplicações analíticas forenses nos artigos especializados do nosso blog:

Perguntas Frequentes

Qual a função da tecnologia WDR em superfícies metálicas e juntas de solda?
A tecnologia Ampla Dinâmica (WDR) calcula imagens com diferentes tempos de exposição em tempo real. Isso elimina o reflexo cego e o brilho saturado gerado pelo metal polido, revelando microfissuras e detalhes topográficos de áreas escuras e claras simultaneamente.

Como funciona o processo de foco automático por lente líquida do T20?
A lente líquida altera sua curvatura óptica por estímulos elétricos imediatos sob algoritmos inteligentes. Esse processo entrega uma focagem instantânea com apenas um clique do mouse na tela, acelerando inspeções contínuas sem o desgaste de ajustes mecânicos manuais.

Este estereomicroscópio necessita de calibração constante ao alterar o nível de zoom?
Não. O Icoe MEADOF-T20 possui um sistema integrado de reconhecimento automático de ampliação e algoritmo de calibração online. Você pode alterar o zoom continuamente ou usar o modo de foco automático e efetuar medições metrológicas diretas sem recalibrar o sistema.

Referência de Catálogo: CB0917 | Marca: Icoe | Modelo: MEADOF-T20 | Procedência: China