O Kit de Polarização Completo Luz Transmitida e Refletida Icoe KIT-POL-TRANS-REFLET-IC resolve a dor da limitação analítica e da falta de contraste quantitativo na caracterização avançada de materiais anisotrópicos, estudos cristalográficos e inspeções industriais metalográficas. Ao consolidar em um único ecossistema modular os sistemas de polarização por luz transmitida e refletida (diascopia e episcopia), este conjunto elimina a necessidade de múltiplos equipamentos de bancada. Ele estende a capacidade do microscópio para realizar análises ortoscópicas e conoscópicas completas, mensurando com precisão o estresse residual, a fotoelasticidade e os eixos ópticos em amostras geológicas, polímeros e ligas metálicas.
Além da venda nacional, este
Kit de Polarização Completo Luz Transmitida e Refletida Icoe KIT-POL-TRANS-REFLET-IC pode ser adquirido via
faturamento direto internacional (Tax Free) para sua instituição ou centro de pesquisa.
Lente de Bertrand Integrada e Grade Completa de Compensadores Ópticos
O grande diferencial tecnológico do modelo Icoe KIT-POL-TRANS-REFLET-IC reside na incorporação nativa da Lente de Bertrand ao cabeçote de análise. Este elemento óptico viabiliza a visualização imediata de figuras de interferência e o perfeito alinhamento do filamento de iluminação. Para a determinação quantitativa do retardo óptico, o kit traz uma seleção de placas compensadoras introduzidas via suporte mecânico slider: a placa de Gesso (Vermelho de 1ª ordem) para triagem clínica de gota e tensões residuais, a placa de Mica (1/4 de onda) para mapeamento de estresse por fotoelasticidade e a Cunha de Quartzo para medições em vidros e fibras têxteis de espessura variável.
- Análise por Luz Transmitida: Filtros lineares deslizantes configurados para iluminação inferior, ideais para petrografia, mineralogia estrutural e identificação de minerais em seções delgadas de rocha.
- Análise por Luz Refletida: Módulo de episcopia projetado para iluminação superior, indispensável em metalurgia, análise de fases em ligas metálicas, opacos, semicondutores e cerâmicas estruturais.
- Sistemas Independentes de Polarização Simples: Inclui conjuntos estritos de polarizadores e analisadores em formato slider para transmissão e reflexão, permitindo alternar rotinas de forma limpa.
Especificações Técnicas
| Componente do Conjunto |
Configuração e Função Analítica |
| Lente de Bertrand |
Integrada; focagem de figuras de interferência conoscópicas e alinhamento de filamento |
| Compensador Vermelho 1ª Ordem |
Placa de Gesso (Lambda λ) para análise de gota/pseudogota e tensões em polímeros |
| Compensador 1/4 de Onda |
Placa de Mica (λ/4) para fotoelasticidade e discriminação de grãos anisotrópicos |
| Compensador Cunha de Quartzo |
Medição quantitativa de estresse interno em vidros, telas eletrônicas e fibras variáveis |
| Módulo de Polarização Transmitida |
01 Polarizador transmitido em slider e 01 analisador transmitido linear básico |
| Módulo de Polarização Refletida |
01 Polarizador refletido em slider e 01 analisador refletido — Código: M.112.75.8047 |
| Mecanismo de Inserção |
Compensator Slider para introdução precisa de placas — Ref: HEMERA-CAT HM271053 |
Dossiê Científico e Autoridade Técnica
A caracterização avanço de materiais anisotrópicos, estudos cristagráficos e diagnósticos de reumatologia de alta precisão demandam o controle absoluto do retardo óptico e das direções de vibração da luz. A integração de sistemas de polarização por luz transmitida e refletida (episcopia e diascopia), potencializada por compensadores de onda do tipo Gesso (λ), Mica (λ/4) e Cunha de Quartzo, permite realizar análises ortoscópicas e conoscópicas completas para determinar eixos ópticos e mensurar quantitativamente o estresse residual e a fotoelasticidade em polímeros, vidros e ligas metálicas. Adicionalmente, a presença da Lente de Bertrand integrada viabiliza a visualização imediata de figuras de interferência e o alinhamento de precisão, transformando o microscópio numa solução definitiva para geologia, mineralogia e controle de qualidade industrial. Conheça as dinâmicas de metrologia óptica, perícia de materiais e guias de hardware nos artigos especializados do nosso blog:
Perguntas Frequentes
Qual a diferença prática entre as observações ortoscópicas e conoscópicas?
A observação ortoscópica é a visualização direta da imagem normal da amostra sob luz polarizada, usada para determinar formas e cores de interferência. A observação conoscópica utiliza a Lente de Bertrand para focar o plano focal traseiro da objetiva, revelando figuras de interferência (isógiros e isocromas) para determinar os eixos ópticos do cristal.
Como o compensador Vermelho de 1ª Ordem (Gesso) atua no diagnóstico de gota e pseudogota?
Este compensador insere um retardo óptico fixo de 550 nm (cor vermelha/magenta de fundo). Cristais de urato monossódico (gota) e pirofosfato de cálcio (pseudogota) possuem birrefringências de sinais ópticos opostos. Sob o filtro, eles mudam para amarelo ou azul dependendo da orientação, permitindo a diferenciação imediata no líquido sinovial.
Por que este kit inclui módulos separados para transmissão e reflexão?
A luz transmitida atravessa amostras transparentes e delgadas, como seções de rochas ou polímeros finos. Já amostras opacas, como ligas metálicas, semicondutores e cerâmicas estruturais, não transmitem luz, exigindo o módulo de reflexão (episcopia), onde a iluminação incide de cima e reflete na superfície polida.
