El Kit de Polarización Completo Luz Transmitida y Reflejada Icoe KIT-POL-TRANS-REFLET-IC resuelve el dolor de la limitación analítica y de la falta de contraste cuantitativo en la caracterización avanzada de materiales anisotrópicos, estudios cristalográficos e inspecciones industriales metalográficas. Al consolidar en un único ecosistema modular los sistemas de polarización por luz transmitida y reflejada (diascopía y episcopía), este conjunto elimina la necesidad de múltiples equipos en el banco de trabajo. Extiende la capacidad del microscopio para realizar análisis ortoscópicos y conoscópicos completos, midiendo con precisión el estrés residual, la fotoelasticidad y los ejes ópticos en muestras geológicas, polímeros y aleaciones metálicas.
Además de la venta nacional, este
Kit de Polarización Completo Luz Transmitida y Reflejada Icoe KIT-POL-TRANS-REFLET-IC puede ser adquirido vía
facturación directa internacional (Tax Free) para su institución o investigación.
Lente de Bertrand Integrada y Grilla Completa de Compensadores Ópticos
El gran diferencial tecnológico del modelo Icoe KIT-POL-TRANS-REFLET-IC radica en la incorporación nativa de la Lente de Bertrand al cabezal de análisis. Este elemento óptico viabiliza la visualización inmediata de figuras de interferencia y el perfecto alineamiento del filamento de iluminación. Para la determinación cuantitativa del retardo óptico, el kit trae una selección de placas compensadoras introducidas vía soporte mecánico slider: la placa de Yeso (Rojo de 1ª orden) para la clasificación clínica de gota y tensiones residuales, la placa de Mica (1/4 de onda) para el mapeo de estrés por fotoelasticidad y la Cuña de Cuarzo para mediciones en vidrios y fibras textiles de espesor variable.
- Análisis por Luz Transmitida: Filtros lineales deslizantes configurados para iluminación inferior, ideales para petrografía, mineralogía estructural e identificación de minerales en secciones delgadas de roca.
- Análisis por Luz Reflejada: Módulo de episcopía diseñado para iluminación superior, indispensable en metalurgia, análisis de fases en aleaciones metálicas, opacos, semiconductores y cerámicas estructurales.
- Sistemas Independientes de Polarización Simple: Incluye conjuntos estrictos de polarizadores y analizadores en formato slider para transmisión y reflexión, permitiendo alternar rutinas de forma limpia.
Especificaciones Técnicas
| Componente del Conjunto |
Configuración y Función Analítica |
| Lente de Bertrand |
Integrada; enfoque de figuras de interferencia conoscópicas y alineamiento de filamento |
| Compensador Rojo 1ª Orden |
Placa de Yeso (Lambda λ) para análisis de gota/pseudogota y tensiones en polímeros |
| Compensador 1/4 de Onda |
Placa de Mica (λ/4) para fotoelasticidad y discriminación de granos anisotrópicos |
| Compensador Cuña de Cuarzo |
Medición cuantitativa de estrés interno en vidrios, pantallas electrónicas y fibras variables |
| Módulo de Polarización Transmitida |
01 Polarizador transmitido en slider y 01 analizador transmitido lineal básico |
| Módulo de Polarización Reflejada |
01 Polarizador reflejado en slider y 01 analizador reflejado — Código: M.112.75.8047 |
| Mecanismo de Inserción |
Compensator Slider para introducción precisa de placas — Ref: HEMERA-CAT HM271053 |
Dossier Científico y Autoridad Técnica
La caracterización avance de materiales anisotrópicos, estudios cristagráficos y diagnósticos de reumatología de alta precisión demandan el control absoluto del retardo óptico y de las direcciones de vibración de la luz. La integración de sistemas de polarización por luz transmitida y reflejada (episcopia y diascopia), potencializada por compensadores de onda del tipo Gesso (λ), Mica (λ/4) y Cunha de Quartzo, permite realizar análisis ortoscópicas y conoscópicas completas para determinar ejes ópticos y mensurar cuantitativamente el estresse residual y la fotoelasticidad en polímeros, vidros y ligas metálicas. Adicionalmente, la presencia de la Lente de Bertrand integrada viabiliza la visualización inmediata de figuras de interferencia y el alinhamento de precisión, transformando el microscopio numa solución definitiva para geologia, mineralogia y controle de qualidade industrial. Conheça as dinâmicas de metrologia óptica, perícia de materiais y guias de hardware nos artigos especializados del nuestro blog:
Preguntas Frecuentes
¿Cuál es la diferencia práctica entre las observaciones ortoscópicas y conoscópicas?
La observación ortoscópica es la visualización directa de la imagen normal de la muestra bajo luz polarizada, utilizada para determinar formas y colores de interferencia. La observación conoscópica utiliza la Lente de Bertrand para enfocar el plano focal trasero del objetivo, revelando figuras de interferencia (isógiros e isocromas) para determinar los ejes ópticos del cristal.
¿Cómo actúa el compensador Rojo de 1ª Orden (Yeso) en el diagnóstico de gota y pseudogota?
Este compensador inserta un retardo óptico fijo de 550 nm (color rojo/magenta de fondo). Los cristales de urato monosódico (gota) y pirofosfato de calcio (pseudogota) poseen birrefringencias de signos ópticos opuestos. Bajo el filtro, cambian a amarillo o azul dependiendo de su orientación, permitiendo la diferenciación inmediata en el líquido sinovial.
¿Por qué este kit incluye módulos separados para transmisión y reflexión?
La luz transmitida atraviesa muestras transparentes y delgadas, como secciones de rocas o polímeros finos. Por otro lado, las muestras opacas, como aleaciones metálicas, semiconductores y cerámicas estructurales, no transmiten luz, exigiendo el módulo de reflexión (episcopía), donde la iluminación incide desde arriba y se refleja en la superficie pulida.
